可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)可靠的測(cè)試與測(cè)量分析
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晶圓溫探針臺(tái)為小尺寸樣品測(cè)量電特性提供高精度可控測(cè)量環(huán)境。
探針臺(tái)可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)可靠的測(cè)試與測(cè)量分析,幫助精準(zhǔn)測(cè)量和分析判斷晶圓器件的性能,包括提供材料/器件的IV/CV特性測(cè)試、LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長(zhǎng)測(cè)試,射頻特性器件失效分析,芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測(cè)試等技術(shù)解決方案
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